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[单选题]
在进行纳米级测量非导体的零件表面形貌时,常采用的测量仪器为（)
A.光学显微镜
B.扫描隧道显微镜
C.原子力显微镜
D.生物显微镜
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A.透射电镜
B.扫描电镜
C.光学显微镜
D.X射线衍射
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第4题
原子力显微镜(atomicforcemicroscope，简称AFM)也称()，是由IBM苏黎士研究实验室的GerdBinning、CalvinQuate和ChristophGerber于1986年发明的。
原子力显微镜（atomicforcemicroscope，简称AFM)也称（)，是由IBM苏黎士研究实验室的GerdBinning、CalvinQuate和ChristophGerber于1986年发明的。
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A.扫描电子显微镜
B.扫描透射显微镜
C.扫描力显微镜
D.扫描隧道显微镜
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