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[主观题]

迁移率

与杂质浓度和温度的关系为:()。

A、若电离杂质散射为主要散射机构,则迁移率随温度升高而增大

B、若晶格振动散射为主要散射机构,则迁移率随温度升高而减小

C、若温度确定,杂质浓度增大时,电子与空穴的多子、少子迁移率都单调下降

D、若电离杂质散射为主要散射机构,则迁移率随温度升高而减小

E、若晶格振动散射为主要散射机构,则迁移率随温度升高而增大

F、杂质浓度较高时,电子的多子和少子迁移率趋近于相同的值

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第1题

迁移率与杂质浓度和温度的关系为:()。

A.若电离杂质散射为主要散射机构,则迁移率随温度升高而增大

B.若晶格振动散射为主要散射机构,则迁移率随温度升高而减小

C.若温度确定,杂质浓度增大时,电子与空穴的多子、少子迁移率都单调下降

D.若电离杂质散射为主要散射机构,则迁移率随温度升高而减小

E.若晶格振动散射为主要散射机构,则迁移率随温度升高而增大

F.杂质浓度较高时,电子的多子和少子迁移率趋近于相同的值

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第2题

随着温度的升高,n型半导体电导率的变化应为()。

A.先增大(考虑杂质电离和电离杂质散射),后减小(考虑晶格振动散射),再增大(考虑本征激发)

B.先增大(考虑杂质电离和晶格振动散射),后减小(考虑晶格振动散射),再增大(考虑本征激发)

C.先减小(考虑晶格振动散射),后增大(考虑本征激发),再减小(考虑晶格振动散射)

D.先增大(晶格振动散射),后减小(考虑杂质电离和电离杂质散射),再增大(考虑本征激发)

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第3题

随着温度的升高,非简并n型半导体电导率的变化过程为?()

A.先增大(考虑杂质电离和电离杂质散射),后减小(考虑晶格振动散射),再增大(考虑本征激发)

B.先增大(考虑杂质电离和晶格振动散射),后减小(考虑晶格振动散射),再增大(考虑本征激发)

C.先减小(考虑晶格振动散射),后增大(考虑本征激发),再减小(考虑晶格振动散射)

D.先增大(晶格振动散射),后减小(考虑杂质电离和电离杂质散射),再增大(考虑本征激发)

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第4题

以下关于“晶格振动散射”的说法正确的是:()。

A.电子在晶格中被格波散射可以看作是电子与声子的相互作用

B.在半导体中起主要散射作用的是长波,而且是纵波

C.声学波散射和光学波散射的散射几率都随温度升高而增大

D.声学波散射和光学波散射的散射几率都随温度升高而降低

E.声学波散射的散射几率随温度升高而增大;光学波散射的散射几率随温度升高而降低

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第5题

如果温度升高,半导体中的电离杂质散射概率和晶格振动散射概率的变化分别是()。

A.变大,变大

B.变大,变小

C.变小,变大

D.变小,变小

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第6题

多种散射机构同时存在时()。

A.总的散射几率是各种散射机构引起的散射几率之和

B.总的散射几率增大了

C.总的平均自由时间更短了

D.载流子的迁移率更小了

E.总的平均自由时间增大了

F.总的迁移率更大了G、总的散射几率减小了

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第7题

Si、Ge元素半导体的主要散射机构为:()。

A.电离杂质散射

B.声学波散射

C.光学波散射

D.谷间散射

E.位错散射

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第8题

对于一般浓度的掺杂半导体,室温下其主要散射机制为:()。
对于一般浓度的掺杂半导体,室温下其主要散射机制为:()。

A、电离杂质散射

B、光学声子散射

C、声学声子散射

D、中性杂质散射

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第9题

以下关于杂质的描述正确的是()。
A、半导体中的杂质会局部的破坏晶格的周期性势场,引起载流子的散射

B、电离的杂质会引起载流子的散射,从而影响载流子的迁移率

C、中性杂质不会对半导体产生影响

D、如果半导体中同时掺入施主杂质和受主杂质,由于所有的杂质都会破坏晶格周期性势场,所以对载流子迁移率的影响是两种杂质浓度之和

E、如果半导体中同时掺入施主杂质和受主杂质,由于杂质的补偿作用,对载流子浓度的影响是两种杂质浓度之差

F、如果半导体中同时掺入施主杂质和受主杂质,而且施主杂质浓度等于受主杂质浓度,由于杂质的补偿作用,该半导体材料属于本征半导体

G、杂质会在半导体的禁带中引入能级

H、如果杂质能级较浅,则杂质易于电离,可为半导体提供导电的载流子或改变半导体的导电类型,如掺入硅中的磷

I、如果杂质能级较深,则杂质不易于电离,可能形成复合中心或陷阱中心

J、如果杂质能级(深能级)的位置在EF附近,该杂质可有效促进载流子的复合,缩短非平衡载流子的寿命,起复合中心的作用,如掺入硅中的金

K、如果杂质能级(深能级)的位置在Ei附近,该杂质可暂时收容非平衡载流子,延长了非平衡载流子的寿命,起陷阱中心的作用

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第10题

下列哪项在计算MOS管最高振荡频率时,可以不考虑()。

A.小尺寸器件沟道长度与栅极长度并不完全相等

B.晶格散射导致的载流子迁移率退化

C.小尺寸器件中的纵向电场

D.栅漏电容的米勒效应

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