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[主观题]

波谱仪和能谱仪中检测的物理信号是()。

波谱仪和能谱仪中检测的物理信号是()。

A、二次电子

B、特征X射线

C、吸收电子

D、俄歇电子

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第1题

仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是()。
仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是()。

A、特征X射线

B、二次电子

C、背散射电子

D、俄歇电子

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第2题

在扫描电镜中能被电子束激发出来用于成像的信号有()。

A.俄歇电子

B.二次电子

C.背散射电子

D.特征X射线

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第3题

表面成分分析主要有X射线光电子能谱、俄歇电子能谱、低能离子衍射谱仪等。()
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第4题

扫描电镜通常是由()六部分组成。

A.电子光学系统、信息检测系统、扫描系统、真空系统、电源系统和X射线能谱仪

B.电子光学系统、信息检测系统、扫描系统、信息收集系统、电源系统和γ射线能谱仪

C.电子光学系统、住处采集系统、扫描系统、信息收集系统、电源系统和β射线能谱仪

D.电子光学系统、信息采集系统、信息检测系统、扫描系统、电源系统和γ射线能谱仪

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第5题

扫描电子显微镜配备的成分分析附件中最常见的仪器是()。
扫描电子显微镜配备的成分分析附件中最常见的仪器是()。

A、波谱仪

B、能谱仪

C、电子探针

D、特征电子能量损失谱

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第6题

SEM的成像物理信号中,()可以得到原子序数衬度。

A.背散射电子

B.吸收电子

C.二次电子

D.透射电子

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第7题

可用于表层成分的信号是()。
可用于表层成分的信号是()。

A、吸收电子

B、二次电子

C、背散射电子

D、透射电子

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第8题

波普仪和能谱仪进行成分分析时,全都是以样品的特征X射线为基础。()
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第9题

X光荧光(XRF)光谱产生的原因是()。两种谱仪一种是(),另一种是()。它们与波谱仪(WDS)和能谱仪(EDS)的区别是()。
X光荧光(XRF)光谱产生的原因是()。两种谱仪一种是(),另一种是()。它们与波谱仪(WDS)和能谱仪(EDS)的区别是()。

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